ASME标准第Ⅴ卷(04版)第10章“附录Ⅴ氦质谱仪试验——示踪探头技术”要求检验扫描应从探测系统的:()

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ASME标准第Ⅴ卷(04版)第10章“附录Ⅴ氦质谱仪试验——示踪探头技术”要求检验扫描应从探测系统的:()

  • A: 最下部开始;
  • B: 最上部开始;
  • C: 中部开始;
  • D: 任意部位开始。

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