搜题，就来89问答库在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）
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在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）
- A: 其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大
- B: 其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大
- C: 其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小
- D: 其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
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