在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

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在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

  • A: 其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
  • B: 其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
  • C: 其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
  • D: 其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

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